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      技術支持

      如何使用雙折射儀測量樣品的雙折射值和方向?
      更新時間:2023-05-22   點擊次數:836次
         雙折射儀是一種測量材料雙折射性質及其參數的儀器,可用於測量光學單晶、晶體、液晶等材料的雙折射值和方向。在使用雙折射儀測量樣品的雙折射值和方向時,需要進行以下步驟:
       
        1.樣品的製備
       
        選取所需的樣品,對其進行打磨或切割處理。樣品的製備需要注意,在樣品表麵應該沒有太深或者太淺的裂紋,氣泡以及其他汙染物,以免影響雙折射的測量。
       

       

       
        2.樣品的設置
       
        將經過打磨和切割處理的樣品放置於樣品台上,並根據需要設置樣品的方向和位置。
       
        3.調節參數
       
        需要根據具體的樣品,調節其工作參數,以便進行準確測量。需要調整像差補償,根據樣品大小調節數值光柵的位置,並累加光團的圖像,以增強樣品的信號-噪聲比。
       
        4.觀察樣品的雙折射現象
       
        在雙折射測量過程中,需要觀察樣品的雙折射圖案和色澤變化,以確定樣品的雙折射現象。首先觀察樣品的測試位置,觀察到細小的雙折射圖片後,再調整像差補償、網規的水平,讓圖樣清晰。
       
        5.測量雙折射值與方向
       
        確定樣品的雙折射方向後,可以開始對其進行雙折射值的測量。在雙折射儀中,需要通過改變垂直於樣品光線的旋轉角度來進行測量。通常,通過旋轉樣品,可以記錄其在不同角度下的雙折射值,並計算雙折射值與角度的關係曲線。
       
        通過以上步驟,即可在雙折射儀中測量樣品的雙折射值與方向。但是,在實際測量過程中,還需要注意以下幾點:
       
        首先,需要進行足夠的預照明時間,以保證測量的準確性和穩定性。
       
        其次,在測量過程中要注意垂直樣品表麵的光線照射,並且要記錄下每一個測量點的光照位置,以便準確控製其位置和角度。
       
        最重要的是,測量的結果要進行多次測量並取平均值,以減小實驗誤差。

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